XUL220菲希爾X射線測(cè)厚儀屬于能量色散型 X 射線熒光(EDXRF)測(cè)量?jī)x器,通過 X 射線激發(fā)樣品表面,分析鍍層厚度及材料成分。其核心優(yōu)勢(shì)包括:
菲希爾X射線測(cè)厚儀多場(chǎng)景適用性:
測(cè)量單 / 雙 / 三層鍍層系統(tǒng)(如金屬基材上的鋅、鎳、鉻等鍍層)。
分析雙元 / 三元合金鍍層成分(如鋅鎳合金、銅錫合金)及電鍍液中金屬離子含量。
支持珠寶、貴金屬中金含量的快速無(wú)損檢測(cè)(需搭配 WinFTM® 軟件及校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊)。
高效測(cè)量設(shè)計(jì):
自下而上測(cè)量方向:X 射線管和探測(cè)器位于測(cè)量臺(tái)下方,被測(cè)樣品直接放置于透明窗口,無(wú)需調(diào)整距離即可自動(dòng)定位,尤其適合螺絲、螺母、連接器等幾何復(fù)雜的小工件。
手動(dòng) XY 工作臺(tái):支持 ±50mm 范圍內(nèi)的精細(xì)移動(dòng),確保微小區(qū)域(如 PCB 焊點(diǎn))的精準(zhǔn)測(cè)量。
智能化操作:
搭載WinFTM® 軟件,提供中、英、德等多語(yǔ)言界面,支持統(tǒng)計(jì)分析(如 SPC 圖、概率圖)、報(bào)告生成及數(shù)據(jù)導(dǎo)出。
視頻輔助系統(tǒng):高分辨率攝像頭實(shí)時(shí)顯示測(cè)量區(qū)域,疊加校準(zhǔn)刻度和十字線,輔助定位并減少人為誤差。