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Fischerscope X鍍層測厚儀

Fischerscope X鍍層測厚儀

簡要描述:
Fischerscope X鍍層測厚儀,Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導(dǎo)體探測器組件位于儀器的下部,因此測量方向從樣品下方開始,樣品由透明窗口支撐。

更新時間:2023-12-27

訪問量:721

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合

Fischerscope X鍍層測厚儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN220產(chǎn)品特點:

? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計;

? 配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片,特別適用于貴金屬分析

? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),適用于更復(fù)雜的多元素分析

? 由下至上的測量方向,可以*簡便地實現(xiàn)樣品定位

FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光分析儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN220應(yīng)用實例

所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低,節(jié)省了時間和精力。現(xiàn)代硅漂移探測器實現(xiàn)了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Fischerscope X-RAY Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導(dǎo)體探測器組件位于儀器的下部,因此測量方向從樣品下方開始,樣品由透明窗口支撐。

菲希爾X射線測厚儀


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